Beim Beschichten von Metallen können bereits extrem dünne Schichten die gewünschte funktionale Wirkung erzielen. Um jedoch optimale elektrische Eigenschaften und eine langfristige Stabilität sicherzustellen, müssen diese Schichten sehr gleichmäßig aufgetragen werden. Überbeschichtungen führen nicht nur zu einem unnötigen Verbrauch wertvoller Materialien, sondern erhöhen auch die Kosten erheblich.

Das SnLAYER-Analysesystem von ECH bietet eine schnelle und hochpräzise Lösung zur Bestimmung der Schichtdicke auf metallischen Oberflächen – und das mit nur einer einzigen Messung.

Innovative elektrochemische Technologie

SnLAYER basiert auf einem neu entwickelten elektrochemischen Verfahren auf Basis der coulometrischen Voltammetrie und entspricht vollständig den Normen DIN 1787 sowie DIN 40500, Teil 5.
Die patentierte Potentialscan-Methode ermöglicht die gleichzeitige Erfassung sowohl freier als auch legierter Anteile der Beschichtung, beispielsweise von Zinnschichten auf Kupfersubstraten.

Schnelle und zuverlässige Ergebnisse

Eine typische Analyse dauert weniger als fünf Minuten und liefert präzise Ergebnisse, die zur Optimierung des Materialeinsatzes, zur Qualitätssicherung und zur Reduzierung der Produktionskosten beitragen.