Beim Beschichten von Metallen können selbst die dünnsten Schichten die gewünschten funktionalen Eigenschaften liefern.

Um jedoch eine optimale elektrische Leistung und eine langfristige Haltbarkeit sicherzustellen, müssen Beschichtungen gleichmäßig aufgebracht werden.

Überschüssiges Material führt nicht nur zu unnötiger Verschwendung wertvoller Ressourcen, sondern auch zu deutlich höheren Produktionskosten.

Das SnLAYER-Analysesystem von ECH bietet eine schnelle und hochpräzise Lösung zur Bestimmung der Dicke metallischer Beschichtungen – und das mit nur einer einzigen Messung.

Innovative elektrochemische Technologie

SnLAYER nutzt ein neu entwickeltes elektrochemisches Verfahren auf Basis der coulometrischen Voltammetrie und erfüllt vollständig die Anforderungen der DIN 1787 sowie der DIN 40500, Teil 5.

Das patentierte Potenzial-Scan-Verfahren ermöglicht die gleichzeitige Erfassung sowohl freier als auch legierter Beschichtungsbestandteile – beispielsweise Zinnbeschichtungen auf Kupfersubstraten.

Schnelle und zuverlässige Ergebnisse

Eine typische Analyse ist in weniger als fünf Minuten abgeschlossen und liefert hochpräzise Ergebnisse zur Unterstützung von:

• Optimierung des Materialeinsatzes
• Qualitätssicherung in der Produktion
• Deutlicher Reduzierung der Herstellungskosten

Mit SnLAYER erhalten Hersteller ein zuverlässiges und einfach zu bedienendes Werkzeug zur Sicherstellung von Produktionsqualität und wirtschaftlicher Effizienz.